液晶膜盒厚测试仪可以测量单层、双层透明薄膜厚度和液晶盒间隙等参数。该仪器采用非接触测量方法，依据光学干涉原理，在计算机控制下进行数据采集和处理，具有测试速度快，精度高和测试过程自动化等特点。适用于在线检测工作的需要。数据可靠，符合研究成果鉴定要求，达到国际先进水平，液晶显示器的制造需经历十几道工序，期间涉及几十个关键参数，这些亘接影响其成品率。